X射线菲涅耳波带板（FZP）
世界上只有NTT-AT生产基于SiC膜的 FZP
NTT的FZP由干法蚀刻的Ta组成。具有出色的高耐X射线辐射性、高分辨率和高对比度,吸收体图案清晰，S/N比高，成像缺陷少, 能理想地应用于X射线显微镜、X射线微光束辐射和X射线成像。
另外，还提供用于软X射线和极紫外（EUV、XUV）领域的Ta图案／SiN膜型FZP和Au板图案／SiN 膜型FZP。并提供台阶式（基诺全息照片）FZP。
￭标准产品列表
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型号
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宽高比
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膜材料
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膜厚度
（μm）
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ΔRn
（nm）
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D
（μm）
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N
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Tm
（nm）
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FZP-S38/84
|
4.2
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SiN
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0.15
|
38
|
84
|
550
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160
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FZP-S50/80
|
5
|
SiN
|
0.2
|
50
|
80
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400
|
250
|
|
FZP-S40/155
|
5
|
SiN
|
2
|
40
|
155
|
970
|
200
|
|
FZP-S50/330
|
8
|
SiN
|
1
|
50
|
330
|
1,650
|
400
|
|
FZP-S86/416
|
8
|
SiN
|
2
|
86
|
416
|
1,200
|
700
|
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FZP-100/155
|
8
|
SiN
|
2
|
100
|
155
|
388
|
800
|
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FZP-173/208
|
5.8
|
SiN
|
2
|
173
|
208
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300
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1,000
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FZP-200/206
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8
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规格参数
商品货号： SSRXR06
商品品牌： NTT-AT
商品重量： 0克
上架时间： 2019-06-13
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