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基底/样品/校准标样
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校准标样 AFM/STM
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AFM/STM标样
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TGZ系列标样,SPM Z方向校准,TGZ1/TGZ2/TGZ3/TGZ4/TGS1，NT-MDT
TGZ系列标样,SPM Z方向校准,TGZ1/TGZ2/TGZ3/TGZ4/TGS1，NT-MDT
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类别：
标准/可溯源
规格：
TGZ4
TGS1
TGZ2_PTB
TGZ3
TGZ2
TGZ1
TGS1_PTB
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正方形柱状模板,硅,周期600-700nm,线宽260-350nm,高度150-500nm
正六边形孔状模板,硅,周期1000-1010nm,线宽300-500nm,高度300-600nm
自吸附盒 半透中粘性
自吸附盒 全透中粘性
Purity清洁布,白
PELCO® Pro 实验室通用镊子,弯头,非磁性不锈钢
一次性轻薄型有粉乳胶手套
Premier普通口罩 耳挂 三层
高弹膜盒 全透明
SiC/0.75，SiC/1.5 原子层原子台阶标样 STEP 0.75nm/1.5nm NT-MDT
PFM03，SPM PFM模式测试样品，NT-MDT
DNA01，SPM DNA检测样品，NT-MDT
V-1级云母片，9-75mm,0.15 - 0.21thickness，Muscovite，EMS/Tedpella
镀金硅片，10x 10mm-4‘’，100nm，300nm
TGQ1, SPMX,Y,Z方向校准标样，NT-MDT
ParafilmM封口膜
Akiyama-Probe 自感应探针,Nanosensors
SNG01，SNOM模式测试样品，NT-MDT
HOPG,ZYB 高序石墨，单/双面，GRBS,适用于SPM
SHS系列台阶标样, 100nm, Appnano NANULER
金属基底,6-20mm,磁性，0.91mmthickness,Tedpella/EMS/SPI
单壁碳纳米管（高纯度）
TGT1，针尖3-D校准标样，NT-MDT
TGL1, XYZ方向校准标样，NT-MDT&TipsNano
TGF11，SPM扫描器垂直方向校准标样，Mikromasch
AC160TS-R3,轻敲模式针尖,26N/M,Al,Olympus&Asylum
商品描述：
规格参数
规格参数
商品货号：
C010105-08
商品品牌：
NT-MDT&TipsNano
商品重量：
100克
上架时间：
2017-11-30
浏览历史
所有分类
SPM探针
轻敲模式 >
|
标准轻敲（Hard Sample，air/vacuum)
|
软轻敲（Soft Sample，air/vacuum)
|
液相针尖（Life science，liquid/Buffer)
|
超细针尖
|
高长径比针尖
|
多悬臂针尖
|
Seiko轻敲模式针尖
|
UHV高真空针尖
|
横向力模式
接触模式 >
|
标准接触模式针尖
|
超细接触模式超细针尖
|
Seiko接触模式针尖
力学测试针尖/Tipless针尖 >
|
Tipless硅针尖
|
氮化硅Tipless针尖
|
Plateau针尖
|
小球针尖
|
Tipless类石英悬臂
|
表面化学修饰探针
快速扫描FastScan >
|
单悬臂硅针尖
|
多悬臂硅针尖
|
HDC/DLC针尖 类石英悬臂
复合多模式多悬臂针尖 >
|
Mikromasch
|
Budgetsensors
|
Opus/Olympus
Top Visual前倾针尖 >
|
导电可视化针尖
|
轻敲可视化针尖
|
接触可视化针尖
|
快速扫描可视化针尖
导电针尖KPFM/EFM/C-AFM/PFM/SCM >
|
全Pt/PtIr金属针尖
|
镀Pt针尖
|
镀Au针尖
|
镀TiN针尖
|
镀W2C+针尖
|
镀PtSi针尖
|
镀Ti/Ir针尖
磁力针尖 >
|
镀Co-Cr针尖
|
超细Co-Cr针尖
|
镀Co-Fe针尖
金刚石针尖/压痕/摩擦/导电 >
|
纳米压痕针尖
|
全金刚石导电针尖
|
全金刚石针尖
|
镀金刚石导电针尖
|
镀金刚石针尖
|
镀类金刚石针尖
|
全类金刚石针尖
类金刚石/碳纳米管/高分辨/3D计量 >
|
全类金刚石/轻敲/软轻敲/快扫
|
全类金刚石/高纵横比/超细
|
碳纳米管针尖
|
全类金刚石/3D CD计量
|
全类金刚石/定制
|
导电系列
生物科学应用针尖 >
|
氮化硅针尖
|
双面镀金氮化硅针尖
|
类石英生物针尖
|
类金刚石针尖
自感应针尖 >
|
Akiyama-Probe
|
自感应硅针尖
|
自感应Tipless探针
|
自感应SCD针尖
|
自感应套件Self-Sensing St
SNOM/TERS针尖 >
|
SNOM针尖
|
TERS针尖
SThM针尖 >
|
SThM探针
|
SMIM探针
keysight/Agilent探针 >
|
keysight/Agilent探针
Park探针（带针托） >
|
Park探针(带针托)
电子显微镜配件耗材
支持膜 >
|
多目
|
石墨烯/氧化石墨烯膜
|
纯碳支持膜
|
无碳支持膜
|
多孔/微栅支持膜
特殊支持膜 >
多孔载网 >
|
圆孔
|
方孔
特型载网 >
|
坐标载网
|
平行载网
|
双联载网
|
聚焦离子束载网
单孔载网 >
|
单孔环（圆孔）
|
椭圆环（狭缝）
样品台 >
|
Pin型样品台 Zeiss|LEO|FEI|Tescan|VolumeScope
|
JEOL柱型样品台
|
Hitachi柱型样品台M4螺孔
|
碳/石墨样品台
|
SEMClip™样品台
|
分区样品台
|
KLA纳米压痕样品台
电镜零配件 >
|
电镜灯丝
|
电镜光阑
|
光阑清洁
|
闪烁体
|
荧光屏
光学显微镜配件耗材 >
|
光学显微镜配件耗材
其他电镜耗材 >
|
砂纸
TEM Grid 支架 >
FIB配件耗材 >
|
FIB载网
|
FIB钨针
|
FIB样品盒
测试服务
电镜-影像中心 >
|
扫描电镜
|
原子力显微镜
|
透射电镜
|
分子影像分析
力学测试 >
|
压痕测试
|
拉伸测试
表面与性能分析平台 >
|
膜厚测试
|
表面测试
|
表面化学分析
|
X射线衍射测试
|
磁学电学测量
|
热分析
|
孔隙度和粒度分析
微纳加工 >
|
纳米压印
半导体的检测与分析 >
|
半导体的高分辨X射线衍射
|
光学性质检测分析
|
表面和薄膜成分分析
|
SPM与半导体
|
TEM与半导体
|
磁学电学性能检测及其他
基底/样品/校准标样
氮化硅薄膜窗口 >
|
TEM氮化硅窗口
|
纳米孔系列
|
TEM | X-ray 氧化硅窗口
|
TEM纯硅窗口
|
X-ray纯硅窗口
|
X-ray氮化硅窗口
|
高应力氮化硅薄膜窗口
|
多孔氮化硅窗口
|
多孔氧化硅窗口
|
LIFT-OUT系列窗口
|
硅窗口(无膜)
|
特殊窗口
|
SiC碳化硅薄膜窗口
校准标样 AFM/STM >
|
AFM/STM标样
测试样品 >
|
AFM测试样品
|
TERS测试样品
|
SNOM测试样品
基底 >
|
HOPG高序石墨
|
金属基底
|
云母
|
硅片
|
二硫化钼
|
PET膜
|
玻碳电极
|
2D材料
|
氧化镁基板
|
聚合物薄膜
|
蓝宝石基板
|
表面化学修饰
电镜校正标准样品 >
|
扫描电镜标样
|
透射电镜标样
|
元素分析标样
|
微米球
|
FIB标样
|
计算指南
轮廓仪校准标样 >
|
光学轮廓仪校准标样
|
台阶仪校准标样
单壁碳纳米管 >
|
单壁碳纳米管
二维材料 >
|
二维半导体
|
二维金属
|
二维半金属
|
二维超导体
|
二维绝缘体
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二维拓扑绝缘体
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二维反铁磁半导体
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二维反铁磁半金属
|
二维反铁磁绝缘体
|
二维铁电半导体
|
二维铁磁材料
|
二维电荷密度波
材料/生物制样用品
粘连用品 >
|
导电胶 | 稀释剂
|
导电胶带
|
导电胶标签
|
高真空胶
|
样品安装胶粘剂
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非导电胶带
|
组织粘附
|
其他导电粘连用品
|
非导电粘连用品
|
去胶用品
切割 >
|
氧化铝切割轮
|
金刚石切割轮
|
切割机
|
切割附件
|
耗材-循环
|
立方氮化硼切割轮
|
碳化硅切割轮
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锯片切割轮
镶嵌 >
|
冷镶树脂
|
热镶树脂
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镶嵌附件
|
镶嵌模具
研磨 >
|
磨杯
|
金刚石垫
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研磨附件
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MD-研磨
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碳化硅砂纸（背底PET薄膜）
|
碳化硅砂纸
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磨石
抛光 >
|
氧化铝
|
金刚石膏
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金刚石喷雾剂
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金刚石棒
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金刚石悬浮液
|
润滑剂
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手动滴液
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二氧化硅
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布和薄膜
其他 >
|
电解液
|
常规用途
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岩相
|
无损检测
|
制备底盘
|
TargetSystem耗材
|
ViaKit 耗材
钻石刀 >
|
超薄切片钻石刀
|
半薄组织切片钻石刀
|
工业材料钻石刀
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笔式钻石刀
|
AFM钻石刀
|
超声波振动钻石刀
|
钻石修块刀20°-90°
|
钻石刀清洁
材料制样用品 >
|
溅射用品
|
切割耗材
生物/化学制样用品 >
|
生物包埋试剂
|
固定染色试剂
|
包埋模具及支架
工业材料显微镜 >
|
Leica显微镜
金相制样 >
|
切割
|
镶嵌
|
磨抛
晶体材料 >
|
单晶材料
AFM-热学/电学/光学/配件
AFM >
|
便携式AFM
|
教学型AFM
|
研究级AFM
|
工业级AFM
|
锁相放大器
AFM-热学 >
|
SThM扫描热学显微镜
AFM-光学 >
|
光诱导力显微镜
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近场光学/共聚焦拉曼显微镜
AFM-电学 >
|
sMIM微波近场显微镜
AFM-In-SEM >
|
SEM电镜兼容原子力显微镜
AFM 配件/升级/维修 >
|
AFM配件
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维修
|
AFM升级
纳米压印/光刻配件耗材
纳米压印模板 >
|
光栅模板
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柱状模板
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孔状模板
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特殊结构
光刻掩模版 >
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掩模版定制
表面处理 >
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模板防粘
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防粘试剂
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防粘处理烘箱
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HMDS
纳米压印胶 >
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软膜板胶
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高折射率胶
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UV压印胶
|
热压印胶
光刻胶 >
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SU-8胶
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正性光刻胶
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负性光刻胶
去胶显影 >
|
剥离液
|
显影液
电镀 >
|
霍尔槽
|
无氰Ag电镀液
|
无氰Au电镀液
衬底 >
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硅片
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玻璃片
|
石英片
|
蓝宝石片
|
ITO片
|
GaAs
|
AlN
|
GaN
高纯靶材 >
|
圆盘靶材
|
环形靶材
|
颗粒靶材
辅助设备 >
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匀胶机
|
烘箱
|
热板
|
吹尘枪
|
氮气柜
|
烤胶机
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提拉机
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涂膜仪
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紫外臭氧清洗机
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热封仪
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电解双喷仪
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电解双喷仪配件
加工设备 >
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纳米压印机
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激光直写
硅片 >
|
小尺寸硅片
|
4寸硅片
|
6寸硅片
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12寸硅片
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8寸硅片
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非掺杂硅片
光学平台/AFM周边仪器
隔振平台 >
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主动桌面式
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主动台桌式
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主动连体隔音腔
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被动桌面式
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被动气浮台桌式
|
被动蜂窝气浮台桌式
|
光学平台
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超薄贴地型隔振系统
纳米压痕配件耗材 >
|
Hysitron压痕仪
|
压头
台阶仪耗材 >
|
台阶仪探针
|
台阶仪校准标样
探针台配件及耗材 >
|
直流探针
|
射频探针
|
有源探针
|
校准基片
纳米力学测试系统 >
|
Femtotools探针及其他耗材
|
纳米操作系统
|
微纳牛力传感器
Filmetrics膜厚测试仪 >
|
单点厚度测量
|
微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量
|
自动厚度测量系统
|
在线厚度测试系统
|
附件
轮廓仪 >
|
光学轮廓仪
|
探针式轮廓仪
方阻测试仪 >
|
附件
实验室通用配件耗材
清洁 >
|
无尘纸
|
封口膜
|
清洁布
|
无尘布
|
棉签
|
容器
过滤配件耗材 >
|
AAO膜
|
无机氧化铝
|
过滤器支架
|
银Ag膜
|
聚碳酸酯膜
|
阳极氧化铝各向异性膜
|
阳极氧化铝各向同性膜
|
镀金聚碳酸酯膜
|
Vitrobot专用滤纸
身体防护 >
|
围裙
|
口罩
|
手套
|
条形帽
|
鞋套
样品存储盒 >
|
高弹膜盒
|
硅片盒
|
自吸附盒
|
扫描电镜样品盒
|
透射电镜样品盒
镊子 >
|
经济型镊子
|
高精度镊子
|
AFM探针镊子
|
样品台镊子
|
防静电镊子
|
生物级镊子
|
涂层镊子
|
特殊材质镊子
|
塑料镊子
|
其他镊子
|
Dumont 杜蒙镊子
|
晶片镊子
|
StudenTek镊子
|
Vitrobot专用镊子
SERS衬底 >
|
拉曼增强试剂
|
SERS芯片基底
防静电用品 >
|
防静电手套
|
防静电腕带
纳米节能抗菌负氧新材料 >
|
节能灭菌负氧材料
样品处理 >
称量/取样 >
密封/塞子 >
分子生物 >
其他耗材 >
漏斗 >
细胞培养 >
实验室通用设备
箱体类设备 >
|
干燥箱/防潮箱/氮气柜
|
冷藏冷冻箱
|
干燥箱系列
|
真空干燥箱系列
|
环境试验箱系列
清洗 >
|
紫外臭氧清洗仪
|
超声波清洗仪
|
等离子清洗机
源表/参数分析仪 >
|
台式万用表
|
数字采集
|
台式电源
|
数字源表
|
数字光衰减器
粉碎混合分离 >
|
振荡器系列
|
离心机系列
|
旋转蒸发仪系列
|
生物类样品研磨仪
|
球磨仪
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磁力搅拌器
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超声波破碎仪
天平 >
|
分析天平
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精密天平
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便携式天平
移液器 >
|
单道
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多道
光谱仪 >
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分光光度计
数码显微镜 >
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手持式数码显微镜
电化学 >
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PH计
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电导率仪
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离子计
加热制冷 >
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水浴锅
合成纯化 >
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蓝光切胶仪
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微波超声萃取仪
真空泵 >
|
无油干式真空泵
手持式检测仪 >
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手持式气体检测仪
|
手持式水质检测仪
|
手持式辐射检测仪
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手持式湿度检测仪
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手持式土壤检测仪
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手持式金属检测仪
|
手持式红外热像仪
同步辐射光学配件
SiC 薄膜窗口 >
|
SiC膜片
X射线图 >
EUV/XUV反射镜 >
|
FZP X射线菲涅耳波带板
|
XUV高反镜
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XUV窄带镜
半导体相关
半导体测试 >
|
半导体检测分析
|
半导体高分辨X射线衍射
|
光学检测分析
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表面及薄膜成分分析
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SPM及半导体
|
TEM及半导体
|
磁学电学性能检测和其他
半导体耗材 >
|
纳米压印胶
|
光刻胶
半导体设备 >
|
隔振平台
|
源表/参数分析仪
|
保存/干燥箱/氮气柜
分子诊疗试剂
纳米节能抗菌负氧新材料
纳米节能抗菌负氧新材料 >
|
节能材料
|
灭菌材料
|
负氧材料
微纳产品中心
表面分析 >
|
便携式AFM原子力显微镜
|
小样品AFM原子力显微镜
|
大样品AFM原子力显微镜
|
全自动AFM原子力显微镜
|
生物型AFM原子力显微镜
|
光诱导力原子力显微镜
|
扫描热学原子力显微镜
|
扫描微波阻抗原子力显微镜
|
AFM In-SEM原子力显微镜
|
探针式轮廓仪D系列台阶仪
|
探针式轮廓仪P系列台阶仪
|
光学轮廓仪Zeta系列光学轮廓仪
|
光学轮廓仪白光干涉仪
|
膜厚仪单点厚度测量
|
膜厚仪微米（显微）级光斑尺度厚度测量
|
膜厚仪自动厚度测量系统
|
膜厚仪在线厚度测量系统
|
膜厚仪椭偏仪
|
膜厚仪棱镜耦合仪
|
表面等离子共振仪共振显微镜
|
表面等离子共振仪共振仪
|
表面缺陷检测仪
|
极低温恒温器
|
晶圆拉曼光谱测试系统
|
高光谱显微镜
力学表征 >
|
微纳米压痕仪
|
微纳米拉伸仪
|
微纳米力学测试/操纵
|
In-SEM微纳米力学原位拉伸台
|
In-SEM微纳米力学纳米操作机
|
In-SEM微纳米力学纳米压痕
|
硬度计
电学表征 >
|
方块电阻测试仪
|
探针台小型研发台
|
探针台手动探针台
|
半自动探针台
|
示波器分析仪
|
矢量网络分析仪
|
频谱分析仪
|
功率分析仪
|
参数分析仪
|
误码率测试仪
|
相干光信号分析仪
|
频率计数器分析仪
|
分析仪配件
In-Situ原位测试 >
|
AFM-In-SEM原子力显微镜
|
In-SEM纳米压痕
|
In-SEM纳米压痕纳米操作机
|
原位加热和电化学原位芯片及Holder
|
原位拉伸
|
阴极荧光系统
|
电镜样品清洗机
|
原位等离子清洗杆
微纳加工 >
|
纳米压印机
|
等离子设备
|
激光制样
|
激光直写光刻机
|
沉积设备
|
刻蚀设备
|
电子束曝光
|
聚合物笔印刷
|
激光干涉光刻机
|
无掩膜光刻机
|
ALD
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