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TEM应用氧化硅窗口,外框3*3mm,膜厚75nm,TEMwindows
TEM应用氧化硅窗口,外框3*3mm,膜厚75nm,TEMwindows
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总销售量:95件
膜厚：
25nm
40nm
75nm
窗口大小：
(8)0.1*0.1mm &(1)0.1*0.35mm
1*1mm
窗口数：
9
硅片厚度：
200um
规格：
SO100-GFLAT75,20片
SO100-GFLAT75,10片
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X-ray应用氮化硅窗口,外框10*10mm,窗口1.5*1.5mm-3*3mm,膜厚50-500nm,Norcada
X-ray应用氮化硅窗口,外框10*10mm,窗口5*5mm,膜厚30-2000nm,Norcada
X-ray应用氮化硅窗口,外框7.5*7.5mm,窗口0.5*0.5mm-1*1mm,膜厚50-1000nm ,Norcada
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X-ray应用氮化硅窗口,外框7.5*7.5mm,窗口1.5*1.5mm-3*3mm,膜厚30-500nm,Norcada
X-ray应用氮化硅窗口,外框8*8mm,窗口1000*1000μm,膜厚100nm,Norcada
TEM应用氮化硅单窗口,外框3*3mm,窗口0.01*0.01mm/0.05*0.05mm,膜厚12-14nm,Norcada
商品描述：
规格参数
规格参数
商品货号：
B040402
商品品牌：
TEMwindows
商品重量：
100克
上架时间：
2017-11-30
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SPM探针
轻敲模式 >
|
标准轻敲（Hard Sample，air/vacuum)
|
软轻敲（Soft Sample，air/vacuum)
|
液相针尖（Life science，liquid/Buffer)
|
超细针尖
|
高长径比针尖
|
多悬臂针尖
|
Seiko轻敲模式针尖
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UHV高真空针尖
|
横向力模式
接触模式 >
|
标准接触模式针尖
|
超细接触模式超细针尖
|
Seiko接触模式针尖
力学测试针尖/Tipless针尖 >
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Tipless硅针尖
|
氮化硅Tipless针尖
|
Plateau针尖
|
小球针尖
|
Tipless类石英悬臂
|
表面化学修饰探针
快速扫描FastScan >
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单悬臂硅针尖
|
多悬臂硅针尖
|
HDC/DLC针尖 类石英悬臂
复合多模式多悬臂针尖 >
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Mikromasch
|
Budgetsensors
|
Opus/Olympus
Top Visual前倾针尖 >
|
导电可视化针尖
|
轻敲可视化针尖
|
接触可视化针尖
|
快速扫描可视化针尖
导电针尖KPFM/EFM/C-AFM/PFM/SCM >
|
全Pt/PtIr金属针尖
|
镀Pt针尖
|
镀Au针尖
|
镀TiN针尖
|
镀W2C+针尖
|
镀PtSi针尖
|
镀Ti/Ir针尖
磁力针尖 >
|
镀Co-Cr针尖
|
超细Co-Cr针尖
|
镀Co-Fe针尖
金刚石针尖/压痕/摩擦/导电 >
|
纳米压痕针尖
|
全金刚石导电针尖
|
全金刚石针尖
|
镀金刚石导电针尖
|
镀金刚石针尖
|
镀类金刚石针尖
|
全类金刚石针尖
类金刚石/碳纳米管/高分辨/3D计量 >
|
全类金刚石/轻敲/软轻敲/快扫
|
全类金刚石/高纵横比/超细
|
碳纳米管针尖
|
全类金刚石/3D CD计量
|
全类金刚石/定制
|
导电系列
生物科学应用针尖 >
|
氮化硅针尖
|
双面镀金氮化硅针尖
|
类石英生物针尖
|
类金刚石针尖
自感应针尖 >
|
Akiyama-Probe
|
自感应硅针尖
|
自感应Tipless探针
|
自感应SCD针尖
|
自感应套件Self-Sensing St
SNOM/TERS针尖 >
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SNOM针尖
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TERS针尖
SThM针尖 >
|
SThM探针
|
SMIM探针
keysight/Agilent探针 >
|
keysight/Agilent探针
Park探针（带针托） >
|
Park探针(带针托)
电子显微镜配件耗材
支持膜 >
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多目
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石墨烯/氧化石墨烯膜
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纯碳支持膜
|
无碳支持膜
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多孔/微栅支持膜
特殊支持膜 >
多孔载网 >
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圆孔
|
方孔
特型载网 >
|
坐标载网
|
平行载网
|
双联载网
|
聚焦离子束载网
单孔载网 >
|
单孔环（圆孔）
|
椭圆环（狭缝）
样品台 >
|
Pin型样品台 Zeiss|LEO|FEI|Tescan|VolumeScope
|
JEOL柱型样品台
|
Hitachi柱型样品台M4螺孔
|
碳/石墨样品台
|
SEMClip™样品台
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分区样品台
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KLA纳米压痕样品台
电镜零配件 >
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电镜灯丝
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电镜光阑
|
光阑清洁
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闪烁体
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荧光屏
光学显微镜配件耗材 >
|
光学显微镜配件耗材
其他电镜耗材 >
|
砂纸
TEM Grid 支架 >
FIB配件耗材 >
|
FIB载网
|
FIB钨针
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FIB样品盒
测试服务
电镜-影像中心 >
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扫描电镜
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原子力显微镜
|
透射电镜
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分子影像分析
力学测试 >
|
压痕测试
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拉伸测试
表面与性能分析平台 >
|
膜厚测试
|
表面测试
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表面化学分析
|
X射线衍射测试
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磁学电学测量
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热分析
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孔隙度和粒度分析
微纳加工 >
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纳米压印
半导体的检测与分析 >
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半导体的高分辨X射线衍射
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光学性质检测分析
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表面和薄膜成分分析
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SPM与半导体
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TEM与半导体
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磁学电学性能检测及其他
基底/样品/校准标样
氮化硅薄膜窗口 >
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TEM氮化硅窗口
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纳米孔系列
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TEM | X-ray 氧化硅窗口
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TEM纯硅窗口
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X-ray纯硅窗口
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X-ray氮化硅窗口
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高应力氮化硅薄膜窗口
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多孔氮化硅窗口
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多孔氧化硅窗口
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LIFT-OUT系列窗口
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硅窗口(无膜)
|
特殊窗口
|
SiC碳化硅薄膜窗口
校准标样 AFM/STM >
|
AFM/STM标样
测试样品 >
|
AFM测试样品
|
TERS测试样品
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SNOM测试样品
基底 >
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HOPG高序石墨
|
金属基底
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云母
|
硅片
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二硫化钼
|
PET膜
|
玻碳电极
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2D材料
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氧化镁基板
|
聚合物薄膜
|
蓝宝石基板
|
表面化学修饰
电镜校正标准样品 >
|
扫描电镜标样
|
透射电镜标样
|
元素分析标样
|
微米球
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FIB标样
|
计算指南
轮廓仪校准标样 >
|
光学轮廓仪校准标样
|
台阶仪校准标样
单壁碳纳米管 >
|
单壁碳纳米管
二维材料 >
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二维半导体
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二维金属
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二维半金属
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二维超导体
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二维绝缘体
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二维拓扑绝缘体
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二维反铁磁半导体
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二维反铁磁半金属
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二维反铁磁绝缘体
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二维铁电半导体
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二维铁磁材料
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二维电荷密度波
材料/生物制样用品
粘连用品 >
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导电胶 | 稀释剂
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导电胶带
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导电胶标签
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高真空胶
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样品安装胶粘剂
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非导电胶带
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组织粘附
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其他导电粘连用品
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非导电粘连用品
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去胶用品
切割 >
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氧化铝切割轮
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金刚石切割轮
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切割机
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切割附件
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耗材-循环
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立方氮化硼切割轮
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碳化硅切割轮
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锯片切割轮
镶嵌 >
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冷镶树脂
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热镶树脂
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镶嵌附件
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镶嵌模具
研磨 >
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磨杯
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金刚石垫
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研磨附件
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MD-研磨
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碳化硅砂纸（背底PET薄膜）
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碳化硅砂纸
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磨石
抛光 >
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氧化铝
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金刚石膏
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金刚石喷雾剂
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金刚石棒
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金刚石悬浮液
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润滑剂
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手动滴液
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二氧化硅
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布和薄膜
其他 >
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电解液
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常规用途
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岩相
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无损检测
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制备底盘
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TargetSystem耗材
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ViaKit 耗材
钻石刀 >
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超薄切片钻石刀
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半薄组织切片钻石刀
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工业材料钻石刀
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笔式钻石刀
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AFM钻石刀
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超声波振动钻石刀
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钻石修块刀20°-90°
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钻石刀清洁
材料制样用品 >
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溅射用品
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切割耗材
生物/化学制样用品 >
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生物包埋试剂
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固定染色试剂
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包埋模具及支架
工业材料显微镜 >
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Leica显微镜
金相制样 >
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切割
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镶嵌
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磨抛
晶体材料 >
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单晶材料
AFM-热学/电学/光学/配件
AFM >
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便携式AFM
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教学型AFM
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研究级AFM
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工业级AFM
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锁相放大器
AFM-热学 >
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SThM扫描热学显微镜
AFM-光学 >
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光诱导力显微镜
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近场光学/共聚焦拉曼显微镜
AFM-电学 >
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sMIM微波近场显微镜
AFM-In-SEM >
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SEM电镜兼容原子力显微镜
AFM 配件/升级/维修 >
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AFM配件
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维修
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AFM升级
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柱状模板
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孔状模板
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防粘试剂
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显影液
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无氰Au电镀液
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激光直写
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小尺寸硅片
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12寸硅片
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被动气浮台桌式
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被动蜂窝气浮台桌式
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超薄贴地型隔振系统
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探针台配件及耗材 >
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直流探针
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射频探针
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有源探针
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校准基片
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Femtotools探针及其他耗材
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纳米操作系统
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Filmetrics膜厚测试仪 >
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在线厚度测试系统
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轮廓仪 >
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光学轮廓仪
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附件
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AAO膜
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无机氧化铝
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银Ag膜
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阳极氧化铝各向同性膜
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镀金聚碳酸酯膜
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身体防护 >
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口罩
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晶片镊子
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真空镊子
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StudenTek镊子
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SERS衬底 >
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拉曼增强试剂
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SERS芯片基底
防静电用品 >
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防静电手套
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防静电腕带
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节能灭菌负氧材料
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超声波清洗仪
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等离子清洗机
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数字采集
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台式电源
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数字源表
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数字光衰减器
粉碎混合分离 >
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离心机系列
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旋转蒸发仪系列
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XUV窄带镜
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半导体测试 >
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半导体检测分析
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半导体高分辨X射线衍射
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光学检测分析
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表面及薄膜成分分析
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TEM及半导体
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磁学电学性能检测和其他
半导体耗材 >
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纳米压印胶
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光刻胶
半导体设备 >
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隔振平台
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源表/参数分析仪
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保存/干燥箱/氮气柜
分子诊疗试剂
纳米节能抗菌负氧新材料
纳米节能抗菌负氧新材料 >
|
节能材料
|
灭菌材料
|
负氧材料
微纳产品中心
表面分析 >
|
便携式AFM原子力显微镜
|
小样品AFM原子力显微镜
|
大样品AFM原子力显微镜
|
全自动AFM原子力显微镜
|
生物型AFM原子力显微镜
|
光诱导力原子力显微镜
|
扫描热学原子力显微镜
|
扫描微波阻抗原子力显微镜
|
AFM In-SEM原子力显微镜
|
探针式轮廓仪D系列台阶仪
|
探针式轮廓仪P系列台阶仪
|
光学轮廓仪Zeta系列光学轮廓仪
|
光学轮廓仪白光干涉仪
|
膜厚仪单点厚度测量
|
膜厚仪微米（显微）级光斑尺度厚度测量
|
膜厚仪自动厚度测量系统
|
膜厚仪在线厚度测量系统
|
膜厚仪椭偏仪
|
膜厚仪棱镜耦合仪
|
表面等离子共振仪共振显微镜
|
表面等离子共振仪共振仪
|
表面缺陷检测仪
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极低温恒温器
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晶圆拉曼光谱测试系统
|
高光谱显微镜
力学表征 >
|
微纳米压痕仪
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微纳米拉伸仪
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微纳米力学测试/操纵
|
In-SEM微纳米力学原位拉伸台
|
In-SEM微纳米力学纳米操作机
|
In-SEM微纳米力学纳米压痕
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硬度计
电学表征 >
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方块电阻测试仪
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探针台小型研发台
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探针台手动探针台
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半自动探针台
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示波器分析仪
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矢量网络分析仪
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频谱分析仪
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功率分析仪
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参数分析仪
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误码率测试仪
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相干光信号分析仪
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频率计数器分析仪
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分析仪配件
In-Situ原位测试 >
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AFM-In-SEM原子力显微镜
|
In-SEM纳米压痕
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In-SEM纳米压痕纳米操作机
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原位加热和电化学原位芯片及Holder
|
原位拉伸
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阴极荧光系统
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电镜样品清洗机
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原位等离子清洗杆
微纳加工 >
|
纳米压印机
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等离子设备
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激光制样
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激光直写光刻机
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沉积设备
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刻蚀设备
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电子束曝光
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聚合物笔印刷
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激光干涉光刻机
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无掩膜光刻机
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ALD
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PVT碳化硅SiC长晶设备
|
金刚石长晶设备
微纳米辅助设备 >
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粒度分析
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等离子清洗机
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紫外臭氧清洗机
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隔音隔震被动隔震台
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隔音隔震主动隔震台
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制样设备样品切割
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制样设备样品镶嵌
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制样设备研磨抛光
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工业/测量显微镜
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视频显微镜
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金相显微镜
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偏光显微镜
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立体/体视显微镜
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USB显微镜
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存储干燥箱
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存储氮气柜
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纳米库尔特粒度仪
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低温位移台
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