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Ted Pella 3.04×0.25电镜光阑 AEI/Amray/Cambridge S600/JEOL/FEI/Philips/Zeiss/Electroscan/Tescan,Mo
Ted Pella 3.04×0.25电镜光阑 AEI/Amray/Cambridge S600/JEOL/FEI/Philips/Zeiss/Electroscan/Tescan,Mo
￥630
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普通用户：
￥630
签约会员：
￥630
办事处：
￥630
经销商：
￥630
内部：
￥630
总销售量:90件
设备：
AEI
Amray
Cambridge S600
JEOL
FEI
Philips
Zeiss
Electroscan
Tescan
材质：
Mo
规格：
25μm Type B
40μm Type B
30μm Type B
20μm Type B
100μm Type B
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商品描述：
规格参数
规格参数
商品货号：
B010220-20
商品品牌：
TedPella
商品重量：
100克
上架时间：
2018-01-18
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SPM探针
轻敲模式 >
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标准轻敲（Hard Sample，air/vacuum)
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软轻敲（Soft Sample，air/vacuum)
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液相针尖（Life science，liquid/Buffer)
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超细针尖
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高长径比针尖
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多悬臂针尖
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UHV高真空针尖
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Opus/Olympus
Top Visual前倾针尖 >
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全类金刚石针尖
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双面镀金氮化硅针尖
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类石英生物针尖
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类金刚石针尖
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Akiyama-Probe
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自感应硅针尖
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自感应SCD针尖
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自感应套件Self-Sensing St
SNOM/TERS针尖 >
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SNOM针尖
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SThM探针
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SMIM探针
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单孔环（圆孔）
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样品台 >
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Hitachi柱型样品台M4螺孔
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碳/石墨样品台
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KLA纳米压痕样品台
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光阑清洁
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光学显微镜配件耗材
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FIB配件耗材 >
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透射电镜
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X射线衍射测试
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孔隙度和粒度分析
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纳米压印
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光学性质检测分析
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SPM与半导体
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TEM与半导体
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磁学电学性能检测及其他
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氮化硅薄膜窗口 >
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纳米孔系列
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TEM应用氧化硅窗口
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TEM纯硅窗口
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X-ray应用氧化硅窗口
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高应力氮化硅薄膜窗口
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多孔氮化硅窗口
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多孔氧化硅窗口
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孔径单窗口
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特殊窗口
校准标样 AFM/STM >
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AFM/STM标样
测试样品 >
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AFM测试样品
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TERS测试样品
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SNOM测试样品
基底 >
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HOPG高序石墨
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金属基底
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云母
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硅片
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二硫化钼
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PET膜
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玻碳电极
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2D材料
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氧化镁基板
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聚合物薄膜
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蓝宝石基板
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表面化学修饰
电镜校正标准样品 >
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扫描电镜标样
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透射电镜标样
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元素分析标样
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微米球
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FIB标样
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计算指南
轮廓仪校准标样 >
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光学轮廓仪校准标样
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台阶仪校准标样
单壁碳纳米管 >
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单壁碳纳米管
材料/生物制样用品
粘连用品 >
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导电胶
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导电胶垫
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超薄切片钻石刀
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切割耗材
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生物包埋试剂
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固定染色试剂
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包埋模具及支架
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金相制样 >
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切割
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镶嵌
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磨抛
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AFM >
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便携式AFM
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研究级AFM
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工业级AFM
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锁相放大器
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SThM扫描热学显微镜
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近场光学/共聚焦拉曼显微镜
AFM-电学 >
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sMIM微波近场显微镜
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SEM电镜兼容原子力显微镜
AFM 配件/升级/维修 >
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AFM配件
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维修
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AFM升级
纳米压印/光刻配件耗材
纳米压印模板 >
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光栅模板
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光刻掩模版 >
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掩模版定制
表面处理 >
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模板防粘
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防粘试剂
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HMDS
纳米压印胶 >
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UV压印胶
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无氰Au电镀液
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小尺寸硅片
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蓝光切胶仪
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微波超声萃取仪
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无油干式真空泵
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XUV高反镜
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XUV窄带镜
半导体相关
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半导体检测分析
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半导体高分辨X射线衍射
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光学检测分析
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TEM及半导体
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纳米节能抗菌负氧新材料
纳米节能抗菌负氧新材料 >
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节能材料
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灭菌材料
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负氧材料
微纳产品中心
表面分析 >
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便携式AFM原子力显微镜
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小样品AFM原子力显微镜
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大样品AFM原子力显微镜
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全自动AFM原子力显微镜
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生物型AFM原子力显微镜
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光诱导力原子力显微镜
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扫描热学原子力显微镜
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扫描微波阻抗原子力显微镜
|
AFM In-SEM原子力显微镜
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探针式轮廓仪D系列台阶仪
|
探针式轮廓仪P系列台阶仪
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光学轮廓仪Zeta系列光学轮廓仪
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光学轮廓仪白光干涉仪
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膜厚仪单点厚度测量
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膜厚仪微米（显微）级光斑尺度厚度测量
|
膜厚仪自动厚度测量系统
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膜厚仪在线厚度测量系统
|
膜厚仪椭偏仪
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膜厚仪棱镜耦合仪
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表面等离子共振仪共振显微镜
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表面等离子共振仪共振仪
|
表面缺陷检测仪
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极低温恒温器
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晶圆拉曼光谱测试系统
力学表征 >
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微纳米压痕仪
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微纳米拉伸仪
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微纳米力学测试/操纵
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In-SEM微纳米力学原位拉伸台
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In-SEM微纳米力学纳米操作机
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In-SEM微纳米力学纳米压痕
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硬度计
电学表征 >
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方块电阻测试仪
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探针台小型研发台
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探针台手动探针台
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半自动探针台
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示波器分析仪
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矢量网络分析仪
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频谱分析仪
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功率分析仪
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参数分析仪
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误码率测试仪
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相干光信号分析仪
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频率计数器分析仪
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分析仪配件
In-Situ原位测试 >
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AFM-In-SEM原子力显微镜
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In-SEM纳米压痕
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In-SEM纳米压痕纳米操作机
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原位加热和电化学原位芯片及Holder
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原位拉伸
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阴极荧光系统
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电镜样品清洗机
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原位等离子清洗杆
微纳加工 >
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纳米压印机
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等离子设备
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激光制样
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激光直写光刻机
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沉积设备
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刻蚀设备
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聚合物笔印刷
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无掩膜光刻机
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等离子清洗机
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紫外臭氧清洗机
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隔音隔震主动隔震台
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制样设备样品镶嵌
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视频显微镜
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