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Park NX-HDM(请联系询价)
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Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement

对于媒介和基体领域的工程师而言,识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析,从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接,这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。此外,Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内最低的本底噪声和独特的True Non-Contact™技术,Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量最精确的原子力显微镜。

 

Higher Throughput, Automatic Defect Review

对于媒介和基体领域的工程师而言,识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析, 从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接,这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。

 

Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement

 

业内对于超平媒介和基体的要求越来越高,所以需要满足设备体积不断减小的需求。此外,Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内最低的本底噪声和独特的True Non-Contact™技术,Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量最精确的原子力显微镜。

规格参数
  • 商品货号: indafm1
  • 商品品牌: Park
  • 商品重量: 1.000千克
  • 上架时间: 2019-02-22
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