F20系列
世界上最畅销的台式薄膜厚度测量系统
只需按下一个按钮，您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 , F20已在世界各地有成千上万的应用被使用. 事实上，我们每天从我们的客户学习更多的应用.
选择您的F20主要取决於您需要测量的薄膜的厚度（确定所需的波长范围）
型号 测试厚度范围 波长选配 F20 15nm - 70µm 380-1050nm F20-EXR 15nm - 250µm 380-1700nm F20-NIR 100nm - 250µm 950-1700nm F20-UV 1nm - 40µm 190-1100nm F20-UVX 1nm - 250µm 190-1700nm F20-XT 0.2µm - 450µm 1440-1690nm 产品配置：
•集成光谱仪/光源装置
•FILMeasure 8 软件
•FILMeasure 独立软件 (用于远程数据分析)
•SS-3 样品平台 及對應 光纤电缆
•参考材料
•厚度标准
•整平滤波器 (用于高反射基板)
•备用灯
选购配件
SampleCam
StageBase-XY10-Auto-100mm
多厚度硅基上的二氧化硅标准
可追溯的 NIST 厚度标准
接触探头
携带箱
规格参数
