微探针12C是一种高速，高输入阻抗有源探头，用于测量集成电路的内部节点电压。输入为1兆欧，并联0.1pf，上升/下降时间为0.8ns。该仪器具有完整的直流功能，可与任何示波器一起使用。12C型是经过特殊设计的，因此与高输入阻抗示波器一起使用时，信号衰减为10:1，而在50Ohm输入下，信号衰减为20:1。坚固，可靠且高速的Model 12C给集成电路带来了非常适度的负载。它可以用于对高速双极，NMOS和CMOS电路进行故障排除，甚至可以对一些保持时间较短的动态节点进行故障排除。每个放大器都针对峰值性能和可靠性进行了单独优化。12C型将承受较大的输入过电压。唯一已知的故障模式是探头尖端的意外断裂或挤压，也可以轻松更换。提供多种可替换探针，可满足各种探测需求.
Input Capacitance
0.1pf
Input Resistance
1.0 megohm
Rise/Fall Time
0.8ns
Bandwidth
dc to 500 MHz
Linearity
0.5%
Voltage Range
-10 to +20V*
Gain Accuracy
±3%
Signal Attenuation
(High Input impedance oscilloscope: 10 to1) (50 ohm input: 20 to 1)
Model 12C Replacement Tips
Part Number
Tungsten Wire Shaft Diameter
Point Radius
12C-1-5
5 micron
<0.1 micron
12C-1-10
10 micron
<0.1 micron
12C-1-22
22 micron
<1.0 micron
12C-1-35
35 micron
<2.0 micron
12C-1-60
60 micron
<3.0 micron
12C-1-125
125 micron
<5.0 micron
12C-2-5
5 micron
<0.1 micron
12C-2-10
10 micron
<0.1 micron
12C-2-22
22 micron
<1.0 micron
12C-2-35
35 micron
<2.0 micron
12C-2-60
60 micron
<3.0 micron
12C-2-125
125 micron
<5.0 micron
12C-4-5
5 micron
<0.1 micron
12C-4-10
10 micron
<0.1 micron
12C-4-22
22 micron
<1.0 micron
12C-4-35
35 micron
规格参数
