在同级产品中，Park XE7 能够带来纳米级分辨率的测量效果。得益于原子力显微镜架构，即立的 XY 轴和 Z 轴柔性扫描器，XE7 能够实现平滑、正交且线性的扫描测量，从而精确成像和测量样品的特征。此外，Park 的True Non-Contact™ 模式可以使探针可以在多次扫描后图像的分辨率仍不会受影响。
Park XE7 拥有简洁的图形用户界面和自动化工具，即便是初学者也可以快速地完成对样品的扫描。无论是预准直探针、简单的样品和探针更换、轻松的激光准直、自上而下的同轴视角以及用户友好型扫描控制和软件处理，XE7 能够全力推动研究生产力的提高。
Park XE7 中所搭载的 True Non-Contact™ 模式让用户无需频繁更换昂贵的探针尖端，并且它配有多功能的扫描模式，兼容性极佳，让您可随时升级系统功能，从而延长产品的使用寿命。
特的产品特点
1）Smartscan智能扫描模式，“1，2，3”点击即可实现成像
2）Pinpoint Nanomechanical力控出图模式，更优越的力学形貌成像及各种电学测试
3）强大的内置集成软件系统，自带LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve软件模式
技术特点
1. XY 轴扫描器含有对称的二维柔性和高强度压电叠堆，可在保持平面外运动少的情况下，实现高正交运动以及纳米级样品扫描下的高响应度。紧凑且坚固的结构是为了低噪声高速伺服回应而设计的；
2. Z 轴扫描范围可从标准的12 µm增至40µm（选购远距离 Z 轴扫描器）
3. 燕尾式轨道设计，轻松更换原子力显微镜镜头。
4. 在手动 XY 轴样品台的控制下，样品的测量定位变得简单。XY 轴样品台的行程范围是13 mm x 13 mm；
5. 原子力显微镜的纳米级信号是由高性能的 Park XE 电子控制器所控制和处理的。凭借着低噪声设计和高速处理单元，Park XE 电子控制器成功实现了True Non-Contact™ 模式，这是纳米级成像和电压电流测量的必要选择。
主要功能模式
标准成像，力学测试、机械性能，化学性能、电性能，光性能（TERS）、热性能等。
Park XE7不同的选项适合于任何的研究，以下对石墨烯不同性能的测试：
纳米材料的光谱学研究
Tel:021-64283335
Email:admin@shnti.com
规格参数
