Park XE15具备多个特殊功能，是共享实验室处理各种样品，研究员进行多变量实验，失效分析时研究晶片等的不二选择，合理的价格搭配强健的性能设置，Park XE15能够实现多样品一次性自动成像，实现效率大化，您只需要将样品放在样品台上，在启动扫描程序便可，该功能还可以在相同环境条件下扫描样品，从而大大提高数据的精确性和稳定性，同时他还配有全面的扫描模式，可扫描各种尺寸的样品。
基本技术特点
100μm x 100μm扫描范围的XY柔韧导向扫描
挠性导向强力Z扫描12μm （25μm选配）
滑动连接的超亮二级管头
多样品夹头
选配编码器的XY自动样品载台
垂直对齐的电动Z载台和聚焦载台
6寸样品台
基本功能模式
标准成像
化学性能
介电/压电性能
真正非接触式
接触式
侧向摩擦力显微技术（LFM）
相位成像，
轻敲模式
功能化探针的化学力显微镜
电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)
静电力显微镜(EFM)
压电力显微镜（PFM）
高电压PFM
力测量
磁性能
热性能
力-距离（F-D）光谱
力-体积成像
磁力显微镜
扫描热显微镜（SThM）
电性能
光学性能
机械性能
导电AFM（AFM）
I-V谱线
扫描开尔文探针显微镜（KPFM）
扫描电容显微镜（SCM）
扫描电阻显微镜（SSRM）
扫描隧道显微镜（STM）
时间分辨的光电流测绘（Tr-PCM）
针尖增强拉曼光谱（TERS）
力调制显微镜（FMM）
纳米压痕，纳米刻蚀
高压纳米刻蚀
纳米操纵
压电力显微镜（PFM）
Tel:021-64283335
Email:admin@shnti.com
规格参数
