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EM-AFM 电镜原位原子力显微镜(SHNTI)
EM-AFM 电镜原位原子力显微镜(SHNTI)
EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点,可快速获得高分辨率的三维图像,并且在微纳米和亚纳米尺度上实时观察纳米级力的相互作用。欢迎咨询,价格面议,电话:021-64283335,邮箱:admin@shnti.com
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商品描述:

规格参数

    EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点,可高速获得高分辨率的三维图像,并且在微纳米和亚纳米尺度上实时观察纳米级力的相互作用,与常规SEM/FIB兼容,并与EDS, EBSD, WSD兼容。

   

 

  主要功能

EM-AFM可在SEM中同时提供原子力显微镜成像和纳米机械测量。它综合了这两种技术的优点,可进行形貌扫描、3D成像、纳米压痕/纳米拉伸测试等。

技术特点

同时获得AFMSEM成像

与主流扫描电镜完全兼容

样品更换简单

高分辨率形貌扫描

用纳米压痕法测量纳米力

操作稳定性高,不受SEM电子束干扰

真空载锁兼容

  技术能力

 

三、应用




 

 

Tel:021-64283335

Email:admin@shnti.com

规格参数
  • 商品货号: SHNTI-EM-AFM
  • 商品品牌: Toronto Nano Instrumentation
  • 商品重量: 60.000千克
  • 上架时间: 2022-11-10
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