X12半自动探针台是一款专业应对各类先进芯片性能测试的综合型高效半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多功能，具有目前行业较高的温宽区和测试精度，可匹配多种测试应用环境
基本信息
产品型号 X12 工作环境 开放式 电力需求 220V,50~60Hz 操控方式 半自动 产品尺寸 1200MM*1600MM*1400MM 设备重量 约1350KG
应用方向
X12半自动探针台设备专业应对12"、8"、6"的晶圆Si/GaN/SiC等各类器件的先进芯片性能测试，可配备相应的仪器仪表，进行I-V、C-V、光信号、RF、1/f噪声等特性分析，设备功能丰富，可升级大功率晶圆测试、射频测试、全自动测试，并可加载温控系统，满足客户在高低温环境下的各种晶圆器件性能测试需求。
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规格参数
