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光谱型椭偏仪(SHNTI)
光谱型椭偏仪(SHNTI)
采用采用PEM相位调制技术,在142-2100 nm范围内,可对薄膜、液体等材料的薄膜厚度和光学常数进行测量。欢迎咨询,价格面议,电话:021-64283335,邮箱:admin@shnti.com
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总销售量:20件

商品描述:

规格参数

一、 简介

UVISEL光谱型相调制椭圆偏振仪(SPME)是一款的仪器,它采用光弹性晶体来调制偏振光,而不是传统椭偏技术中的机械偏光装置。
与传统椭偏仪相比,UVISEL光谱型椭偏仪能够在全谱范围内测椭偏角(Y, D),从而可以对透明衬底、超薄薄膜和折射率接近的样品进行特性分析。
相调制技术的原理,使得UVISEL光谱型椭偏仪能够进行参数测量,包括极化度、各向异性以及Mueller矩阵元素的确定。高达1毫秒/每数据点的快速数据采集速率,使得UVISEL成为动态研究和液态表面测量的可靠的解决方案。
UVISEL是一台多功能的光谱型椭偏仪。它覆盖了190nm到2100nm的宽光谱范围,而且提供了一系列的自动选件和附件来增强系统的功能、满足您的实验需求。模块化的设计使得UVISEL配置灵活,可以离线、在线甚至为减小占地面积和满足超净间要求而集成到一个机柜中。

二、 技术特点

Ÿ   光谱型相调制椭圆偏振仪

Ÿ   精度和灵敏度良好

Ÿ   宽光谱范围:142到2100纳米

Ÿ   模块化设计

Ÿ   包含成熟的光谱型椭圆偏振仪软件包

Ÿ   自动平台样品扫描成像、变温台、电化学反应池、液体池、密封池等多种附件

三、主要应用

测量厚度、反射率和透射率、折射率等光学常数

Ÿ   单层膜或多层膜叠加

Ÿ   单一膜层

Ÿ   液态膜层

四、技术能力

光谱波长范围:190-2100nm

光源:75W Xe灯

光斑大小:标配<3mm,小光斑50μm可选

探测器:分别针对紫外,可见和近红外提供优化的PMT和IGA探测器

自动样品台尺寸:6/8寸多种样品台可选

自动量角器:变角范围35° - 90°,全自动调整,小步长0.01°

五、应用

半导体薄膜:光刻胶、工艺薄膜、介电材料

液晶显示:OLED、玻璃厚度、ITO

光学镀膜:硬涂层厚度、减反涂层

高分子薄膜:PI、PC

Tel:021-64283335

Email:admin@shnti.com

规格参数
  • 商品货号: SHNTI-UVISEL Plus
  • 商品品牌: Horiba
  • 商品重量: 60.000千克
  • 上架时间: 2022-11-10
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