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FTIR 膜厚测试仪 IRE 200(非真实价格,请询价))
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本设备是用于硅上或 SiC 上外延层厚度的测量。 欢迎咨询,价格面议,电话:021-64283335,邮箱:admin@shnti.com
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商品描述:

规格参数













规格参数
  • 商品货号: MN-1706786599
  • 商品品牌: SHNTI
  • 商品重量: 100克
  • 上架时间: 2024-02-01
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