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二氧化硅薄膜膜厚标准物质GBW13958
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商品描述:

规格参数

外包装为铝箔真空袋,每包装为一片,20 mm乘以20 mm

采用掠入射X射线反射技术为样品定值,此设备为计量校准装置,角度源至多齿分度台标准装置,入射光波长溯源至单品硅晶格参数。通过使用满足计量学特性要求的测量方法和计量器具保证其量值溯源性。

特性量值及不确定度如下:

规格参数
  • 商品货号: MN-1763619869
  • 商品品牌: 国产
  • 商品重量: 100克
  • 上架时间: 2025-11-20
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