可测量沉积在各种基材上的导电片和薄膜，跨越10个数量级范围电阻率，包括：

半导体晶圆基板

玻璃基板

塑料（柔性）基材

PCB图案特征

太阳能电池

平板显示层和图案化特征

金属箔

规格参数

商品货号： MN_R50

商品品牌： KLA-Filmetrics

商品重量： 0克

上架时间： 2022-11-23