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方阻测试仪R50测试(非真实价格,请联系客服)
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商品描述:

规格参数

可测量沉积在各种基材上的导电片和薄膜,跨越10个数量级范围电阻率,包括:

半导体晶圆基板

玻璃基板

塑料(柔性)基材

PCB图案特征

太阳能电池

平板显示层和图案化特征

金属箔

规格参数
  • 商品货号: MN_R50
  • 商品品牌: KLA-Filmetrics
  • 商品重量: 0克
  • 上架时间: 2022-11-23
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